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 Intergranular Cracking as a Major Cause of Long-Term Capacity Fading of Layered Cathodes 晶间裂纹是层状阴极长期容量衰减的主要原因
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期刊：Nano Letters 作者：Hao Liu; Mark Wolfman; Khim Karki; Young‐Sang Yu; Eric A. Stach; et al 出版日期：2017-05-26 |
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