标题 |
Reliability Enhancement of β-Ga2O3 Junction Barrier Schottky Diodes by Passivation and Termination Techniques
用钝化和端接技术提高β-Ga2O3结势垒肖特基二极管的可靠性
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DOI |
10.1109/LED.2024.3389999
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其它 |
期刊名称:IEEE Electron Device Letters 发表年份:2024 作者:Z. Z. Hu, K. Nomoto, W. S. Li, et al. |
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