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Optical emission spectroscopy as a method for evaluating the change in Si etching structures profile in ICP SF6/C4F8 plasma: Microstructures
发射光谱作为评估ICP SF6/C4F8等离子体中硅蚀刻结构分布变化的方法:微结构
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期刊:Journal of Vacuum Science & Technology A Vacuum Surfaces and Films 作者:Artem A. Osipov; Alina E. Fumina; Anastasiya Speshilova; Ekaterina V. Endiiarova; A. А. Osipov; et al 出版日期:2024-09-19 |
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