标题 |
Enhancing mask synthesis for curvilinear masks in full-chip extreme ultraviolet lithography
全芯片极紫外光刻中曲线掩模的增强掩模合成
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期刊:Journal of micro/nanopatterning, materials, and metrology 作者:Kevin Hooker; Guangming Xiao; Yuxun Tang; Yunqiang Zhang; Moongyu Jeong; et al 出版日期:2023-12-20 |
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