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![]() 电机绕组绝缘寿命消耗及劣化分析
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期刊:8th IET International Conference on Power Electronics, Machines and Drives (PEMD 2016) 作者:Claudio Sciascera; Chris Gerada; Michael Galea; Paolo Giangrande 出版日期:2016-01-01 |
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