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 A new test procedure to realistically estimate end-of-life electrical parameter stability of SiC MOSFETs in switching operation 一种真实评估SiC MOSFETs开关工作寿命结束时电参数稳定性的新测试方法
相关领域
MOSFET
材料科学
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期刊： 作者：Paul Salmen; Maximilian W. Feil; Katja Waschneck; H. Reisinger; Gerald Rescher; et al 出版日期：2021-03-01 |
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