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 Huge differences between low- and high-angle twist grain boundaries: The case of ultrathin (001) Si films bonded to (001) Si wafers 低角度和高角度扭曲晶界之间的巨大差异：超薄（001）Si薄膜键合到（001）Si晶片上的情况
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期刊：Applied Physics Letters 作者：Jean‐Luc Rouvière; K. Rousseau; Frank Fournel; H. Moriceau 出版日期：2000-08-21 |
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