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Cause of Etch Pits during the High Speed Plasma Etching of Silicon Carbide and an Approach to Reduce their Size
碳化硅高速等离子体刻蚀过程中刻蚀坑的成因及减小刻蚀坑尺寸的方法
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材料科学
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期刊:Materials Science Forum 作者:Yuma Nakanishi; Risa Mukai; Satoshi Matsuyama; Kazuto Yamauchi; Yasuhisa Sano 出版日期:2020-07-28 |
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