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EUV resist chemical gradient enhancement by UV flood exposure for improvement in EUV resist resolution, process control, roughness, sensitivity and stochastic defectivity
通过UV泛光曝光增强EUV抗蚀剂化学梯度以改善EUV抗蚀剂分辨率、过程控制、粗糙度、灵敏度和随机缺陷
相关领域
抵抗
极紫外光刻
进程窗口
材料科学
极端紫外线
光学
表面粗糙度
灵敏度(控制系统)
平版印刷术
纳米技术
光电子学
物理
激光器
电子工程
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工程类
图层(电子)
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期刊: 作者:Seiji Nagahara; Cong Que Dinh; Keisuke Yoshida; Gosuke Shiraishi; Yoshihiro Kondo; et al 出版日期:2020-03-30 |
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