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 Quantification of the sheet resistance between two-dimensional semiconductors and semi-metals by a contact-end-resistance method 用接触端电阻法定量二维半导体和半金属之间的薄层电阻
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期刊：Applied Physics Letters 作者：Wen Zhu; Yida Li; Xuewei Feng 出版日期：2024-02-12 |
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