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Adaptive accelerated aging for 28 nm HKMG technology
28纳米HKMG技术的自适应加速老化
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期刊:Microelectronics Reliability 作者:Devyani Patra; Ahmed Kamal Reza; Mohammed K. Hassan; M. Katoozi; Ethan H. Cannon; et al 出版日期:2017-12-22 |
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