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![]() 高分辨X射线光电子能谱作为局部原子结构探针:在非晶SiO2和Si-SiO中的应用
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期刊:Physical Review Letters 作者:F. J. Grunthaner; P. J. Grunthaner; R. P. Vasquez; B. Lewis; J. Maserjian; et al 出版日期:1979-11-26 |
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