标题 |
Effects of the Solid Concentration of Ceria Slurry on the Removal Rate and Selectivity of Si Wafer during Chemical Mechanical Polishing
二氧化铈浆料固体浓度对硅晶片化学机械抛光去除率和选择性的影响
相关领域
材料科学
泥浆
薄脆饼
化学机械平面化
抛光
选择性
化学工程
冶金
复合材料
纳米技术
催化作用
有机化学
化学
工程类
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Materials science forum 作者:Achmad Chafidz; Karan Kumar Gupta; Chun Yu; Chung‐Hsin Lu 出版日期:2024-10-30 |
求助人 | |
下载 | 暂无链接,等待应助者上传 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|