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BEOL Post-Etch Clean Robustness Improvement with Ultra-Diluted Hf for 28nm Node
使用超稀释Hf提高28nm节点的BEOL蚀刻后清洁耐用性
相关领域
材料科学
稳健性(进化)
稀释
薄脆饼
氧化物
硅
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期刊:Diffusion and defect data, solid state data. Part B, Solid state phenomena/Solid state phenomena 作者:Lucile Broussous; R. Fabre; Thomas Massin; Hiwadezu Ishikawa; Fabrice Buisine; et al 出版日期:2018-08-01 |
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