| 标题 |
 Two Dimensional X-Ray Diffraction Mapping of Basal Plane Orientation on SiC Substrates SiC衬底基面取向的二维X射线衍射图谱
相关领域
基面
薄脆饼
垂直的
衍射
弯曲
材料科学
欧米茄
格子（音乐）
结晶学
方向（向量空间）
几何学
光学
倾斜（摄像机）
X射线晶体学
凝聚态物理
复合材料
物理
光电子学
化学
数学
量子力学
声学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Materials science forum 作者：Justinas Pališaitis; Peder Bergman; Per O. Å. Persson 出版日期：2009-03-02 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
不配.
毛豆
杳鸢
坚强的广山
HEIKU
爱静静
子车茗
宇文远锋
柳叶刀小猪
宁少爷
weishen
寻道图强
tuanheqi
little_forest
sissiarno
嗯哼
劲秉
一一
YifanWang
InfoNinja
皖公网安备34019202002308
