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 In-depth analysis of residual stress in an alumina coating on silicon nitride substrate using confocal Raman piezo-spectroscopy 用共焦拉曼压电光谱深入分析氮化硅基底上氧化铝涂层的残余应力
相关领域
材料科学
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期刊：Acta Materialia 作者：Shigehiro Ohtsuka; Wenliang Zhu; Shigemi Tochino; Yutaka Sekiguchi; Giuseppe Pezzotti 出版日期：2007-01-11 |
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