标题 |
High‐Yield Production of High‐κ/Metal Gate Nanopattern Array for 2D Devices via Oxidation‐Assisted Etching Approach
氧化辅助蚀刻法高产率制备二维器件用高κ/金属栅极纳米图案阵列
相关领域
蚀刻(微加工)
材料科学
产量(工程)
纳米技术
金属
光电子学
冶金
图层(电子)
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Small 作者:Weida Hong; Jiejun Zhang; Daobing Zeng; Chen Wang; Zhongying Xue; et al 出版日期:2024-08-02 |
求助人 | |
下载 | |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|