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 Extrinsic Degradation of Flexible Poly-Si Thin-Film Transistors Under Dynamic Bending Stress 动态弯曲应力下柔性多晶硅薄膜晶体管的非本征退化
相关领域
材料科学
降级（电信）
弯曲
薄膜晶体管
压力（语言学）
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电压
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Wenjuan Zhou; Mingxiang Wang; Dongli Zhang; Huaisheng Wang; Qi Shan 出版日期：2024-02-26 |
| 求助人 | |
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