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![]() 微SiO2和纳米SiO2改性ITZ剪切结合强度和显微维氏硬度的浸出引起的劣化
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期刊:Journal of Building Engineering 作者:Shaowei Wang; Wenlong Gao; Pinghua Zhu; Jiawen Wu; Hui Liu; et al 出版日期:2024-05-25 |
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