标题 |
Synergistic effect of CTA+ and Br- on defect-free TSV filling by Cu electrodeposition
PTA+和Br-对铜电沉积无缺陷硅孔填充的协同效应
相关领域
材料科学
冶金
复合材料
化学工程
化学
工程类
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DOI | |
其它 |
期刊:Electrochimica Acta 作者:Hui Won Eom; Haejin Kwak; Channing Cheng-Lin Yang; Woon Young Lee; Min Hyung Lee; et al 出版日期:2024-08-01 |
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