标题 |
Association mapping of tan spot and septoria nodorum blotch resistance in cultivated emmer wheat
二粒小麦黑斑病与黑斑病抗性的关联图
相关领域
塞普托利亚
生物
植物生物化学
叶斑病
两极
抗性(生态学)
植物
农学
植物抗病性
遗传学
基因
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DOI | |
其它 |
期刊:Theoretical and Applied Genetics 作者:Dhondup Lhamo; Qun Sun; Timothy L. Friesen; Anil Karmacharya; Xuehui Li; et al 出版日期:2024-07-29 |
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