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 The Deterioration of a-IGZO TFTs Owing to the Copper Diffusion after the Process of the Source/Drain Metal Formation 相关领域
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期刊：Journal of The Electrochemical Society 作者：Ya-Hsiang Tai; Hao-Lin Chiu; Lu-Sheng Chou 出版日期：2012-03-17 |
| 求助人 |
jie.cr 在
2021-02-17 16:28:01 发布，悬赏 10 积分
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