标题 |
Deep Learning Enabled Measurements of Single-Atom Defects in 2D Transition Metal Dichalcogenides with Sub-Picometer Precision
相关领域
材料科学
过渡金属
Atom(片上系统)
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DOI | |
其它 |
期刊:Microscopy and Microanalysis 作者:Chia-Hao Lee; Chuqiao Shi; Di Luo; Abid Khan; Blanka E. Janicek; et al 出版日期:2019 |
求助人 |
赫幼蓉 在
2022-02-21 16:46:21 发布,悬赏 10 积分
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