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Development of New TiN/ZrO2/Al2O3/ZrO2/TiN Capacitors Extendable to 45nm Generation DRAMs Replacing HfO2 Based Dielectrics
替代HfO2基电介质的可扩展到45nm代DRAM的新型TiN/ZrO2/Al2O3/ZrO2/TiN电容器的开发
相关领域
德拉姆
锡
电容器
电介质
材料科学
计算机科学
光电子学
电气工程
工程类
电压
冶金
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期刊:2006 Symposium on VLSI Technology, 2006. Digest of Technical Papers. 作者:D.-S. Kil; H.-S. Song; K.-J. Lee; K. Hong; J.-H. Kim; et al 出版日期:2006-10-24 |
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