标题 |
![]() CMP过程中磨料粒度和氧化剂浓度对CdZnTe晶体性能的影响
相关领域
材料科学
粒径
化学机械平面化
过程(计算)
磨料
Crystal(编程语言)
粒子(生态学)
复合材料
结晶学
化学工程
抛光
海洋学
化学
计算机科学
工程类
程序设计语言
地质学
操作系统
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Materials Science in Semiconductor Processing 作者:Xiaoyan Liang; Liang Yin; Jijun Zhang; Wenxuan Yang; Chen Xie; et al 出版日期:2024-07-08 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|