标题 |
Nanometer Thermal Conductivity Mapping Using Laser-based Scanning Thermal Microscopy
基于激光的扫描热显微镜绘制纳米热导率图
相关领域
材料科学
热导率
扫描热显微术
纳米
硅
热导率测量
热的
激光器
纳米技术
显微镜
复合材料
光电子学
分析化学(期刊)
光学
热力学
化学
物理
色谱法
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:MRS Proceedings 作者:Jeremy Goeckeritz; Gary Aden; Ami Chand 出版日期:2015-01-01 |
求助人 | |
下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|