标题 |
TCAD-based investigation of 1/f noise in advanced 22 nm FDSOI MOSFETs
基于TCAD的22 nm FDSOI MOSFET 1/f噪声研究
相关领域
光电子学
MOSFET
材料科学
绝缘体上的硅
噪音(视频)
工程物理
电子工程
电气工程
计算机科学
硅
工程类
晶体管
电压
人工智能
图像(数学)
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DOI | |
其它 |
期刊:Applied Physics Letters 作者:Prabhat Khedgarkar; Mohit D. Ganeriwala; Pardeep Duhan 出版日期:2024-11-11 |
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