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 Application of 3-D X-Ray Computed Tomography for the <i>In Situ</i> Visualization of the SiC Crystal Growth Interface during PVT Bulk Growth 三维X射线计算机断层扫描在PVT体生长过程中SiC晶体生长界面原位可视化中的应用
相关领域
材料科学
接口（物质）
晶体生长
原位
X射线
Crystal（编程语言）
可视化
计算机断层摄影术
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结晶学
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期刊：Materials science forum 作者：Georg Neubauer; Michael Salamon; Florian Roider; Norman Uhlmann; Peter J. Wellmann 出版日期：2013-01-25 |
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