标题 |
Quantitative Study on the Evolution of Microstructure, Strength, and Electrical Conductivity of the Annealed Oxygen‐Free Copper Wires
退火无氧铜线组织、强度和电导率演变的定量研究
相关领域
材料科学
微观结构
电阻率和电导率
铜
晶界
位错
复合材料
电导率
粒度
冶金
电气工程
工程类
物理化学
化学
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DOI | |
其它 |
期刊:Advanced Engineering Materials 作者:Pengfei Sun; Zhiwei Li; J.P. Hou; A.M. Xu; Qiang Wang; et al 出版日期:2022-03-01 |
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