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 Dual surface defects induced efficient interfacial electron transfer in S-scheme hollow ZnO@ZnS heterojunction for uranium (VI) removal 双表面缺陷诱导S型空心ZnO@ZnS异质结中有效界面电子转移去除铀（VI）
相关领域
异质结
光催化
电子转移
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氧化还原
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化学工程
催化作用
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化学
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期刊：Separation and Purification Technology 作者：Cailing Liu; Yiguo Xu; Yiyang Peng; Hongqing Wang; Yinxiang Chen; et al 出版日期：2024-06-01 |
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