标题 |
A detection method of weak and small defects based on fluorescence imaging technology
一种基于荧光成像技术的弱小缺陷检测方法
相关领域
对比度(视觉)
荧光
像素
激光器
分割
材料科学
光学
人工智能
计算机视觉
计算机科学
物理
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊: 作者:Qinxiao Liu; Rui Dong; Liu Hongjie; Fang Wang; Ye Tian; et al 出版日期:2021-08-09 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|