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Characterization of SiC Substrates Using X-Ray Rocking Curve Mapping
用X射线摇摆曲线映射表征SiC衬底
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期刊:Materials science forum 作者:M. Yoganathan; Ejiro Emorhokpor; Thomas Kerr; Avi Gupta; C.D. Tanner; et al 出版日期:2006-10-15 |
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