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 Critical Interface States Controlling Rectification of Ultrathin NiO–ZnO p–n Heterojunctions 控制超薄NiO-ZnO p-n异质结整流的临界界面态
相关领域
异质结
非阻塞I/O
材料科学
氧化物
X射线光电子能谱
氧化镍
带隙
带材弯曲
光电子学
纳米技术
化学工程
催化作用
化学
生物化学
工程类
冶金
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| 其它 |
期刊：ACS Applied Materials & Interfaces 作者：K. Xerxes Steirer; Kai Ou; Neal R. Armstrong; Erin L. Ratcliff 出版日期：2017-08-30 |
| 求助人 | |
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