Fracture surface analysis and quantitative characterization of gallium arsenide III-V semiconductors using fractography

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标题	Fracture surface analysis and quantitative characterization of gallium arsenide III-V semiconductors using fractography 使用断裂术对砷化III-V半导体进行断裂表面分析和定量描述相关领域断口学砷化镓表征（材料科学）材料科学断裂（地质）半导体光电子学复合材料法律工程学纳米技术工程类
网址	https://doi.org/10.1016/j.engfailanal.2021.105313
DOI	10.1016/j.engfailanal.2021.105313 doi
其它	期刊：Engineering Failure Analysis 作者：Anthony Moulins; Roberto Dugnani; Ricardo J. Zednik 出版日期：2021-02-23
求助人	123 在 2025-03-20 18:16:39 发布自福建，悬赏 10 积分
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