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  Reliability Evaluation of LED Lamp Beads Considering Multi-Stage Wiener Degradation Process Under Generalized Coupled Accelerated Stress 广义耦合加速应力下考虑多级Wiener退化过程的LED灯珠可靠性评估
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期刊：Electronics 作者：Yinglong Dong; Zhen Zhou; He Dai; Kaixin Liu 出版日期：2024-11-29 |
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