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Characterizing Defects Inside Hexagonal Boron Nitride Using Random Telegraph Signals in van der Waals 2D Transistors
用范德华二维晶体管中的随机电报信号表征六方氮化硼内部的缺陷
相关领域
六方氮化硼
范德瓦尔斯力
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期刊:ACS Nano 作者:Zhujun Huang; Ryong‐Gyu Lee; Edoardo Cuniberto; Jiyoon Song; Jeong‐Won Lee; et al 出版日期:2024-09-28 |
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