标题 |
A Hybrid Deep Learning-Based Framework for Chip Packaging Fault Diagnostics in X-Ray Images
基于混合深度学习的X射线图像芯片封装故障诊断框架
相关领域
人工智能
稳健性(进化)
计算机科学
规范化(社会学)
炸薯条
计算机视觉
分割
模板匹配
模式识别(心理学)
故障检测与隔离
图像分割
深度学习
图像(数学)
执行机构
电信
生物化学
化学
社会学
人类学
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期刊:IEEE Transactions on Industrial Informatics 作者:Jie Wang; Gaomin Li; Haoyu Bai; Guixin Yuan; Xuan Li; et al 出版日期:2024-05-27 |
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