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 Near-Surface Composition, Structure, and Energetics of TiO2 Thin Films: Characterization of Stress-Induced Defect States in Oxides Prepared via Chemical Vapor Deposition versus Solution Deposition from Sol–Gel Precursors TiO2薄膜的近表面组成、结构和能量学：通过化学气相沉积与溶胶-凝胶前体溶液沉积制备的氧化物中应力诱导缺陷态的表征
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期刊：Journal of Physical Chemistry C 作者：R. Clayton Shallcross; Neal R. Armstrong 出版日期：2021-10-22 |
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