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![]() 硅通孔(TSV)金属化用高纯铜溅射靶规范
相关领域
材料科学
薄脆饼
溅射
铜
硅
可靠性(半导体)
通过硅通孔
粒度
表面光洁度
表面粗糙度
光电子学
复合材料
冶金
薄膜
纳米技术
功率(物理)
物理
量子力学
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期刊: 作者: 出版日期:2023-11-29 |
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