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 Precise estimation of dynamic junction temperature of SiC transistors for lifetime prediction of power modules used in three-phase inverters 用于三相逆变器功率模块寿命预测的SiC晶体管动态结温的精确估计
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期刊：Microelectronics Reliability 作者：Alice Teixeira; Bernardo Cougo; Gilles Segond; L. M. F. Morais; Marco Antônio Percope de Andrade; et al 出版日期：2023-10-01 |
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