| 标题 |
 Predicting Lifetime of Semiconductor Power Devices Under Power Cycling Stress Using Artificial Neural Network 基于人工神经网络的功率循环应力下半导体功率器件寿命预测
相关领域
动力循环
人工神经网络
绝缘栅双极晶体管
功率半导体器件
功率（物理）
半导体器件
电力电子
压力（语言学）
晶体管
电子工程
可靠性工程
电气工程
计算机科学
工程类
电压
材料科学
人工智能
可靠性（半导体）
物理
哲学
复合材料
量子力学
语言学
图层（电子）
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：IEEE Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics 作者：Alessandro Vaccaro; Paolo Magnone; Andrea Zilio; Paolo Mattavelli 出版日期：2022-07-27 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成，仅限求助人下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
爱静静
持卿
bc
nenoaowu
迷人秋烟
科研小民工
GrindSeason
Dmooou
weining
Leon
高大凌寒
搜集达人
请叫我风吹麦浪
tuanheqi
Xiaoxiao
康宁
MchemG
胡萝卜须
自由茈
iNk
皖公网安备34019202002308
