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A scanning microscopy technique based on capacitive coupling with a field-effect transistor integrated with the tip
基于与尖端集成的场效应晶体管电容耦合的扫描显微镜技术
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期刊:Ultramicroscopy 作者:Kumjae Shin; Dae sil Kang; Sang hoon Lee; Wonkyu Moon 出版日期:2015-07-26 |
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