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Detection of dislocations in strongly absorbing crystals by projection X-ray topography in back reflection
背反射投影X射线形貌法检测强吸收晶体中的位错
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期刊:Journal of Physics D Applied Physics 作者:I. L. Shul’pina; T. S. Argunova 出版日期:1995-04-14 |
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