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 Impact of Electrical Defects located at Transistor Periphery on Analog and RTN Device Performance 位于晶体管外围的电缺陷对模拟和RTN器件性能的影响
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期刊：2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) 作者：Luca Pirro; Philipp Liebscher; C. Brantz; M. Kessler; Holger Herzog; et al 出版日期：2022-03-01 |
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