标题 |
Unraveling the role of post-annealing in IGZO transistor for memory applications
揭示后退火在IGZO晶体管存储器应用中的作用
相关领域
晶体管
退火(玻璃)
材料科学
光电子学
纳米技术
薄膜晶体管
工程物理
物理
电气工程
工程类
复合材料
电压
图层(电子)
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其它 |
期刊:Microelectronic Engineering 作者:Nayeon Kim; Jiae Jeong; Jae Wook Lee; Jiyong Woo 出版日期:2025-01-01 |
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