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 Particular Failure Mechanism of GaN-Based Alternating Current Light-Emitting Diode Induced by GaO$_{x}$ Oxidation GaO$_{x}$氧化诱发GaN基交流发光二极管的特殊失效机制
相关领域
机制（生物学）
光电子学
二极管
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材料科学
宽禁带半导体
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期刊：IEEE Photonics Technology Letters 作者：Hsi-Hsuan Yen; Hao-Chung Kuo; Wen-Yung Yeh 出版日期：2010-06-15 |
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