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Simulation of Silicon Carbide Sputtering by a Focused Gallium Ion Beam
聚焦镓离子束溅射碳化硅的模拟
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期刊:Semiconductors 作者:A. V. Rumyantsev; O. V. Podorozhniy; Р. Л. Волков; Н. И. Боргардт 出版日期:2022-12-01 |
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