标题 |
Dynamic Reverse Bias Test Circuit for SiC MOSFET with Adjustable dV ds /dt
dV ds/dt可调的SiC MOSFET动态反向偏置测试电路
相关领域
MOSFET
反向偏压
材料科学
光电子学
逻辑门
电气工程
电子工程
晶体管
电压
工程类
二极管
|
网址 | |
DOI | |
求助人 | |
下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|