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Electronic Properties of Group-III Nitride Semiconductors and Device Structures Probed by THz Optical Hall Effect
用THz光学霍尔效应探测III族氮化物半导体和器件结构的电子性质
相关领域
材料科学
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期刊:Materials 作者:Nerijus Armakavicius; Philipp Kühne; Alexis Papamichail; Hengfang Zhang; Sean Knight; et al 出版日期:2024-07-05 |
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