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Patterning at the Resolution Limit of Commercial Electron Beam Lithography
商用电子束光刻分辨率极限下的图案化
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期刊:Nano Letters 作者:Mohammad S. M. Saifullah; Mohamed Asbahi; Darren C. J. Neo; Zackaria Mahfoud; Hui Ru Tan; et al 出版日期:2022-09-07 |
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